D523-08 Standardowa metoda badania połysku zwierciadlanego

D523-08 Standardowa metoda badania połysku zwierciadlanego

Norma ta została wydana pod stałym oznaczeniem D523; liczba następująca bezpośrednio po oznaczeniu wskazuje rok pierwotnego przyjęcia lub, w przypadku rewizji, rok ostatniej rewizji. Liczba w nawiasach wskazuje rok ostatniego ponownego zatwierdzenia. Superscripl epsilon wskazuje na zmianę redakcyjną od ostatniej korekty lub ponownego zatwierdzenia. Ten standard został zatwierdzony do użytku przez agencje Departamentu Obrony.

1. Zakres D523-08

1. Ta metoda badawcza obejmuje pomiar połysku zwierciadlanego próbek niemetalicznych dla geometrii miernika połysku 60, 20 i 85 (1-7)
2.  Wartości podane w jednostkach cal-funt należy traktować jako standardowe. Wartości podane w nawiasach są matematycznymi przeliczeniami na jednostki SI, które są podane wyłącznie w celach informacyjnych i nie są uważane za standardowe.
3. Niniejsza norma nie ma na celu rozwiązania kwestii bezpieczeństwa, jeśli takie istnieją, związanych z jej stosowaniem. Obowiązkiem użytkownika niniejszej normy jest ustanowienie odpowiednich praktyk bezpieczeństwa i higieny oraz określenie możliwości zastosowania ograniczeń prawnych przed użyciem.

2. Dokumenty referencyjne

Normy ASTM:

• D 823 Praktyki wytwarzania warstw o ​​jednolitej grubości farby, lakieru i produktów pokrewnych na panelach testowych
• D 3964 Praktyka doboru próbek powłok do pomiarów wyglądu
• D 3980 Praktyka badań międzylaboratoryjnych farb i materiałów pokrewnych
• D4039 Metoda testowa dla odbicia zamglenia powierzchni o wysokim połysku
• E 97 Metoda testowa dla kierunkowego współczynnika odbicia, 45 stopni 0 stopni nieprzezroczystych próbek za pomocą szerokopasmowej reflektometrii filtracyjnej
• E 430 Metody testowe do pomiaru połysku powierzchni o wysokim połysku metodą goniofotometrii skróconej

3. Terminologia

Definicje:

1. względny współczynnik odbicia światła, n-stosunek strumienia świetlnego odbitego od próbki do strumienia odbitego od standardowej powierzchni w tych samych warunkach geometrycznych. Na potrzeby pomiaru połysku zwierciadlanego standardową powierzchnią jest szkło polerowane.
2. połysk lustrzany, n-względny współczynnik odbicia światła próbki w kierunku zwierciadła.

4. Podsumowanie metody badawczej

4.1 Pomiary wykonuje się z geometrią 60, 20 lub 85. Geometrię kątów i otworów dobiera się tak, aby procedury te można było stosować w następujący sposób:
4.1.1 Geometria 60 jest używana do porównywania większości próbek i do określenia, kiedy geometria 200 może być bardziej odpowiednia.
4.1.2 Geometria 20 jest korzystna do porównywania próbek o wartościach połysku 60 wyższych niż 70.
4.1.3 Geometria 85 jest używana do porównywania próbek pod kątem połysku lub połysku bliskiego wytarciu. Najczęściej stosuje się go, gdy próbki mają 60 połysku mniejsze niż 10.

5. Znaczenie i zastosowanie D523-08

5.1 Połysk jest związany ze zdolnością powierzchni do odbijania większej ilości światła w kierunkach zbliżonych do zwierciadła niż w innych. Pomiary za pomocą tej metody badawczej są skorelowane z wizualnymi obserwacjami połysku powierzchni wykonanymi pod mniej więcej odpowiednimi kątami.
5.1.1 Zmierzone oceny połysku tą metodą testową uzyskuje się przez porównanie odbicia zwierciadlanego próbki do tego z czarnego standardu połysku. Ponieważ współczynnik odbicia zwierciadlanego zależy również od powierzchniowego współczynnika załamania światła próbki, zmierzone oceny połysku zmieniają się wraz ze zmianą współczynnika załamania powierzchni. Jednak przy otrzymywaniu wizualnych ocen połysku zwyczajowo porównuje się współczynniki odbicia zwierciadlanego dwóch próbek o podobnym współczynniku załamania powierzchni indeksy.
5.2 Inne wizualne aspekty wyglądu powierzchni, takie jak wyrazistość odbitych obrazów, zamglenie odbicia i tekstura, są często zaangażowane w ocenę połysku.
Metoda testowa E 430 obejmuje techniki pomiaru zarówno wyrazistości połysku obrazu, jak i zamglenia odbicia. Metoda testowa D4039 zapewnia alternatywną procedurę pomiaru zamglenia odbicia.
5.3 Opublikowano niewiele informacji na temat relacji liczbowych do percepcyjnych interwałów połysku zwierciadlanego. Jednak w wielu zastosowaniach skale połysku tej metody badawczej zapewniły skalowanie instrumentalne powlekanych próbek, które dobrze zgadzały się ze skalowaniem wizualnym.
5.4 w przypadku próbek różniących się znacznie postrzeganym połyskiem lub kolorlub oba są porównywane, nieliniowość można napotkać w związku między ocenami różnic połysku wizualnego a różnicami w odczytywaniu połysku instrumentalnego.

D523-08 Standardowa metoda badania połysku zwierciadlanego