Халуун дүрсэн цайрдсан бүрхүүлийн зэврэлтэнд тэсвэртэй байдлын судалгаа

Халуун дүрэлзсэн Zn55Al1.6Si цайрын бүрээс нь цайрын бүрээстэй харьцуулахад зэврэлтээс хамгаалах сайн үзүүлэлттэй төдийгүй бага өртөгтэй тул автомашины үйлдвэрлэл, усан онгоцны үйлдвэрлэл, машин үйлдвэрлэлийн гэх мэт олон салбарт өргөн хэрэглэгддэг. Al-ийн үнэ одоогийн Zn-ээс бага байна). Ла зэрэг ховор шороо нь масштабын өсөлтийг саатуулж, наалдацыг нэмэгдүүлдэг тул ган болон бусад материалыг хамгаалахад ашигладаг. металл исэлдэлт ба зэврэлтээс хамгаалах хайлш. Гэсэн хэдий ч халуун дүрсэн цайрдсан бүрхүүлд La-г хэрэглэх талаар цөөн хэдэн ном зохиол хэвлэгдсэн байдаг бөгөөд энэ нийтлэлд Ла-ийн нэмэлт нь халуун дүрсэн цайрдсан бүрхүүлийн зэврэлтэнд үзүүлэх нөлөөг судалсан болно.

туршилтын

[1] Халуун дүрэх

Ф 0,0.02 мм-ийн зөөлөн ган утсан дээр 0.05 жин %, 0.1 жин %, 0.2 жин %, 1 жин % La агуулсан халуун дүрсэн Zn-Al-Si-La хайлш бүрээсийг хийсэн. Уг процесс нь дараах байдалтай байсан: зэв, тослогийг арилгахын тулд дуунаас хурдан долгионоор цэвэрлэх (55 ° C) → усаар цэвэрлэх → флюслэх (85 ° C) → хатаах (100 ~ 200 ° C) халуун усанд (640 ~ 670 ° C, 3～5 сек).

[2] Жин хасах тест

Жин хасах туршилтыг зэсээр түргэвчилсэн цууны хүчлийн давс шүрших туршилт (CASS) болон давс шүрших камер болон 3.5% NaCl уусмалд дүрэх зэврэлтийн туршилтаар хэмжсэн. Туршилтын дараа идэмхий бүтээгдэхүүнийг механик аргаар зайлуулж, урсгал усаар зайлж, дараа нь хүйтэн тэсэлгээний агаараар хатааж, жингийн алдагдлыг электрон жингээр хэмжсэн. Хоёр тохиолдолд гурван паrallel дээжийг илүү нарийвчлалтай авахын тулд хийсэн. Туршилтын хугацаа нь CASS тестийн хувьд 120 цаг, живэх туршилтын хувьд 840 цаг байв.

[3]Цахилгаан химийн туршилт

ХБНГУ-аас нийлүүлсэн IM6e цахилгаан химийн ажлын станцаар цахилгаан химийн туршилтыг эсрэг электрод болгон цагаан алтны хавтан, лавлагаа электродоор ханасан каломель электрод, ажлын электродоор халуунд дүрсэн Zn-Al-Si-La бүрээстэй зөөлөн ган утсыг авсан. Зэврүүлэх орчин нь 3.5% NaCl уусмал байв. Туршилтын уусмалд өртсөн гадаргуугийн талбай нь 1см2 байв. Цахилгаан химийн эсэргүүцэл спектроскопийн (EIS) хэмжилтийг давтамжийн мужид 10 кГц-ээс 10 мГц хүртэл, синусоид хүчдэлийн дохионы өргөн нь 10 мВ (rms) байсан. -70 мВ хүртэлх хүчдэлийн мужид сул туйлшралын муруйг тэмдэглэв. 70 мВ хүртэл сканнердах хурд нь 1 мВ/с байв. Хоёр тохиолдолд зэврэлтээс хамгаалах чадвар тогтвортой байх хүртэл туршилтыг эхлүүлээгүй (5 минутын дотор 5 мВ-аас бага хэлбэлзэл).

[4]SEM болон XRD судалгаа

Давс шүрших камер болон 550% NaCl уусмалд зэврэлтээс хамгаалах туршилт хийсний дараа дээжийн гадаргуугийн морфологийг SSX-3.5 сканнерийн электрон микроскопоор (SEM) шалгасан. Давсны шүршигч болон 3.5% NaCl уусмал дахь дээжийн гадаргуу дээр үүссэн зэврэлтийн бүтээгдэхүүнийг PW-3040160 рентген туяаны дифракц (XRD) ашиглан туршсан.

Үр дүн ба хэлэлцүүлэг

[1] Зэврэлтэнд тэсвэртэй
[1.1] Жин хасах
Зураг 1-д давс цацах шүүгээ болон 3.5% NaCl уусмал дахь жин хасах туршилтын үр дүнг харуулав. Хоёр тохиолдолд дээжийн зэврэлтийн түвшин эхлээд La-ийн агууламж 0.05 жин% хүртэл өсөхөд буурч, дараа нь Ла-ын агууламж нэмэгдэх тусам нэмэгдсэн байна. Иймээс хамгийн сайн зэврэлтэнд тэсвэртэй байдал нь 0.05 wt.% La агуулсан бүрээстэй байсан. Усанд живүүлэх туршилтын явцад 0% NaCl уусмал дахь 3.5wt.%La бүрэх гадаргуу дээр улаан зэв хамгийн эрт илэрсэн боловч усанд дүрэх туршилт дуусах хүртэл 0.05wt.La бүрэх гадаргуу дээр улаан зэв гараагүй болохыг тогтоосон. .

2.1.2 Цахилгаан химийн туршилт

Зураг 2-т 3.5% NaCl уусмал дахь Zn-Al-Si-La хайлшны бүрээсний сул туйлшралын муруйг харуулав. Сул туйлшралын муруйн хэлбэр нь бага зэргийн ялгааг харуулсан бөгөөд бүх төрлийн хайлшийн бүрээсийн зэврэлтийн процессыг катодын урвалаар удирддаг болохыг харж болно. Зураг 2-т үзүүлсэн сул туйлшралын муруй дээр үндэслэсэн Tafel-ийн тохируулгын үр дүнг Хүснэгт 1-д үзүүлэв. Жин хасах туршилтын нэгэн адил цайрсан бүрхүүлийн зэврэлтэнд тэсвэртэй байдал нь La-г бага хэмжээгээр нэмж, хамгийн бага хэмжээгээр нэмэгдүүлэх боломжтой болохыг олж мэдсэн. зэврэлтийн түвшинг 0.05wt.%La-аар олж авсан.

Зураг 3 нь 3.5% NaCl уусмалд 0.5 цагийн турш өртсөн өөр өөр хэмжээний La-ийн нэмэлт бүхий бүрээсийг бүртгэсэн Nyquist диаграммыг харуулж байна. Бүх тохиолдолд хоёр нум байсан бөгөөд энэ нь хоёр удаагийн тогтмол гэсэн үг юм. Өндөр давтамжтай гарч ирэх нь хайлшны бүрээсний диэлектрик шинж чанарыг илэрхийлдэг бол бага давтамжтай нь нүх сүв дэх зөөлөн ган субстратын (жишээ нь бүрэх согог) -тай тохирч байв. La-ийн нэмэгдэл ихсэх тусам өндөр давтамжийн нумын диаметр ихсэх тусам Zn55Al1.6Si0.05La хайлшаар бүрсэн тохиолдолд энэ нөлөө илүү тод харагдаж байна. Харин Ла-ын агууламж нэмэгдэхийн хэрээр өндөр давтамжийн нумын диаметр урвуугаар багассан. Үүний зэрэгцээ бүх нумын төв нь дөрөв дэх квадрат руу хазайсан нь электродын гадаргуу дээр дисперсийн нөлөө байгааг харуулж байна. Энэ нөхцөлд цэвэр багтаамжийн оронд CPE (тогтмол фазын элемент) ашиглан илүү сайн үр дүнд хүрч чадна. бусад судалгааны бүлгүүд.