D523-08 Metòd Egzamen Estanda pou Gloss Espekilè

D523-08 Metòd Egzamen Estanda pou Gloss Espekilè

Estanda sa a pibliye anba deziyasyon fiks D523; nimewo imedyatman apre deziyasyon an endike ane adopsyon orijinal la oswa, nan ka revizyon an, ane dènye revizyon an. Yon nimewo nan parantèz endike ane dènye reapwobasyon an. Yon epsilon sipèskripsyon endike yon chanjman editoryal depi dènye revizyon oswa reapwobasyon an. Estanda sa a te apwouve pou itilize pa ajans Depatman Defans lan.

1.Dimansyon D523-08

1. Metòd tès sa a kouvri mezi gloss espekilè espesimèn ki pa metalik pou jeyometri mèt gloss 60, 20, ak 85 (1-7)
2.  Valè yo endike nan inite pous-liv yo dwe konsidere kòm estanda. Valè yo bay nan parantèz yo se konvèsyon matematik nan inite Sl yo bay pou enfòmasyon sèlman epi yo pa konsidere kòm estanda.
3. Estanda sa a pa pretann adrese yon nan enkyetid sekirite yo, si genyen, ki asosye ak itilizasyon li. Se responsablite itilizatè a estanda sa a pou etabli pratik sekirite ak sante ki apwopriye epi detèmine aplikasyon pou limit regilasyon anvan yo itilize.

2.Dokiman referans yo

Estanda ASTM:

• D 823 Pratik pou pwodwi fim nan epesè inifòm nan penti, vèni, ak pwodwi ki gen rapò sou panno tès yo
• D 3964 Pratik pou Seleksyon Espesimèn Kouch pou Mezi Aparans
• D 3980 Pratik pou tès laboratwa nan penti ak materyèl ki gen rapò
• D4039 Metòd tès pou refleksyon brouyar nan sifas ki gen anpil briyan
• E 97 Metòd Tès pou Faktè Refleksyon Direksyon, 45-Deg 0-Deg, nan Espesimèn Opak pa Reflectometry Filtè Broad-Band
• E 430 Metòd Tès pou Mezi Gloss nan Sifas Gloss segondè pa Goniophotometry abreje

3. Tèminoloji

Definisyon:

1. relatif faktè refleksyon lumineux, n-rapò a nan flux la lumineux reflete soti nan yon echantiyon nan flux la reflete nan yon sifas estanda anba menm kondisyon yo jewometrik. Nan bi pou yo mezire enteprete specular, sifas estanda a se vè poli.
2. specular gloss, n-faktè refleksyon relatif lumineux yon echantiyon nan direksyon glas la.

4. Rezime Metòd Tès

4.1 Mezi yo fèt ak 60, 20, oswa 85 jeyometri. Yo chwazi jeyometri ang ak ouvèti pou pwosedi sa yo ka itilize jan sa a:
4.1.1 Yo itilize jeyometri 60 la pou konpare pifò espesimèn yo epi pou detèmine lè jeyometri 200 la ka pi aplikab.
4.1.2 20 jeyometri a avantaje pou konpare espesimèn ki gen valè 60gloss ki pi wo pase 70.
4.1.3 Yo itilize jeyometri 85 pou konpare espesimèn pou klere oswa klere tou pre patiraj. Li se pi souvan aplike lè espesimèn gen 60 valè gloss pi ba pase 10.

5.Siyifikasyon ak itilizasyon D523-08

5.1 Gloss asosye ak kapasite yon sifas pou reflete plis limyè nan direksyon toupre specular pase nan lòt moun. Mezi pa metòd tès sa a korelasyon ak obsèvasyon vizyèl nan klere sifas ki fèt nan apeprè ang korespondan yo.
5.1.1 Metòd tès sa a jwenn evalyasyon gloss mezire lè yo konpare refleksyon espekilè ki soti nan echantiyon an ak sa ki soti nan yon estanda gloss nwa. Piske refractive espekilè depann tou sou endèks refractive sifas echantiyon an, evalyasyon gloss mezire chanje kòm endèks refractive sifas chanje. Nan jwenn evalyasyon gloss vizyèl, sepandan, li se nòmal pou konpare refractive specular de espesimèn ki gen menm jan refractive sifas. endis.
5.2 Lòt aspè vizyèl nan aparans sifas, tankou distenksyon nan imaj reflete, brouyar refleksyon, ak teksti, yo souvan patisipe nan evalyasyon an nan enteprete.
Metòd Egzamen E 430 gen ladan teknik pou mezire tou de gloss distenksyon imaj ak brouyar refleksyon. Metòd tès D4039 bay yon pwosedi altènatif pou mezire brouyar refleksyon.
5.3 Yo te pibliye ti enfòmasyon sou relasyon nimerik ak entèval pèsepsyon nan gloss espekilè. Sepandan, nan anpil aplikasyon echèl gloss metòd tès sa a te bay echèl enstrimantal nan espesimèn kouvwi ki te dakò byen ak dekale vizyèl.
5.4 lè espesimèn diferan anpil nan enteprete pèrsu oswa koulè,oswa tou de ,yo konpare, nonlinearite ka rankontre nan relasyon ki genyen ant evalyasyon diferans vizyèl gloss ak diferans lekti enteprete enstrimantal.

D523-08 Metòd Egzamen Estanda pou Gloss Espekilè